Antiresonant Oxide Island as a Measure for Improved Single-Mode Emission in VCSELs - LAAS - Laboratoire d'Analyse et d'Architecture des Systèmes
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Antiresonant Oxide Island as a Measure for Improved Single-Mode Emission in VCSELs

Marta Wieckowska
  • Fonction : Auteur
Tomasz Czyszanowski
  • Fonction : Auteur
Guilhem Almuneau
Équipe Photonique
Maciej Dems
  • Fonction : Auteur

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Matériaux Optique / photonique

Guilhem Almuneau  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://laas.hal.science/hal-01968192

Soumis le : mercredi 2 janvier 2019-11:26:46

Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:22

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01968192 , version 1 (02-01-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01968192 , version 1

Citer

Marta Wieckowska, Tomasz Czyszanowski, Guilhem Almuneau, Maciej Dems. Antiresonant Oxide Island as a Measure for Improved Single-Mode Emission in VCSELs. 20th International Conference on Transparent Optical Networks (ICTON 2018), Jul 2018, Bucarest, Romania. ⟨hal-01968192⟩

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