Oxydation sélective contrôlée de semiconducteurs III-V pour les composants photoniques - LAAS - Laboratoire d'Analyse et d'Architecture des Systèmes
Poster Année : 2019

Oxydation sélective contrôlée de semiconducteurs III-V pour les composants photoniques

Guilhem Almuneau
Stéphane Calvez
Gaël Lafleur
  • Fonction : Auteur
Oleksandr Stepanenko
Antoine Monmayrant
Henri Camon

Résumé

L'oxydation latérale sélective des semiconducteurs III-V présentant une forte teneur en aluminium est une étape technologique généralement utilisée pour la fabrication des lasers à cavité verticale émettant par la surface (VCSEL) et des composants d'optique guidée. Dans les deux cas, à partir de mésas gravés, cette transformation sélective d'une couche enterrée de semiconducteur en isolant d'indice de réfraction faible (n~1.6) permet de définir un confinement optique dont les propriétés sont intrinsèquement liées à la forme latérale de l'interface entre le semiconducteur et l'oxyde (couramment appelée diaphragme AlOx) et à sa position verticale dans l'empilement considéré.
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Dates et versions

hal-02449267 , version 1 (22-01-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02449267 , version 1

Citer

Guilhem Almuneau, Stéphane Calvez, Gaël Lafleur, Oleksandr Stepanenko, Alexandre Arnoult, et al.. Oxydation sélective contrôlée de semiconducteurs III-V pour les composants photoniques. GDR OXYFUN : Couches minces d'oxydes fonctionnels et applications en électronique et photonique, Oct 2019, Caen, France. ⟨hal-02449267⟩
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