Identifiabilité ensembliste et détection de fautes au travers de l'estimation paramétrique - LAAS - Laboratoire d'Analyse et d'Architecture des Systèmes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2023

Identifiabilité ensembliste et détection de fautes au travers de l'estimation paramétrique

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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-04116243 , version 1 (03-06-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04116243 , version 1

Citer

Carine Jauberthie, Louise Travé-Massuyès, Nathalie Verdière. Identifiabilité ensembliste et détection de fautes au travers de l'estimation paramétrique. 1er congrès de la SAGIP, Jun 2023, Marseiile, France. ⟨hal-04116243⟩
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