METHODE DE PRE-SCAN POUR ACCELERER LES TEMPS DE MESURE DU SCAN CHAMP PROCHE EN IMMUNITE
Résumé
L'article présente une approche de "pré-scan", basée sur l'utilisation d'un générateur de peigne, pour accélérer les temps de mesure du scan champ proche en immunité appliquée sur carte et composant électronique.
Domaines
Sciences de l'ingénieur [physics]
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