L’injection en champ proche (NFSI) est une méthode récente d’analyse de la susceptibilité électromagnétique (EM) d’un circuit intégré (CI) permettant d’étudier le comportement d’un système soumis à une agression électromagnétique intentionnelle (AGREMI). C’est un moyen non intrusif qui peut agresser des broches de composants par ailleurs non accessibles. Cet article compare le NFSI à une injection conduite qui s’inspire de la norme DPI et propose une corrélation entre les deux méthodes d’injection. Sa validation numérique et expérimentale avec différents types de sondes sur des impédances linéaires passives renforce son potentiel pour une évaluation plus précise de la susceptibilité des composants électroniques à une agression EM.