Modélisation de système pour la prédiction de défaillances dues aux décharges électrostatiques - LAAS - Laboratoire d'Analyse et d'Architecture des Systèmes Access content directly
Conference Papers Year : 2016

Modélisation de système pour la prédiction de défaillances dues aux décharges électrostatiques

Abstract

De par l'évolution des technologies des semi-conducteurs et la multiplication d'applications embarquées dans des environnements sévères, les défaillances induites par des décharges électrostatiques (ElectroStatic Discharges-ESD) deviennent une préoccupation majeure. Ces évènements transitoires de forte puissance peuvent provoquer la destruction du matériel ou induire des fautes logiques tout aussi critiques pour les applications où la sécurité des personnes est en jeu. Le principal objectif est de définir et de valider une méthodologie comportementale de construction de modèle de circuits intégrés (CI), pour simuler l'impact des ESD dans un système. Ce travail se fait dans le cadre du groupe de normalisation WG26 de l'ESDA (ESD Association-" Models for System Level Simulations ") qui travaille actuellement sur un standard afin de prédire l'impact des ESD dans un système. Sept laboratoires sont impliqués et travaillent en round robin pour valider une méthodologie.

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Electronics
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Dates and versions

hal-01698411 , version 1 (01-02-2018)

Identifiers

  • HAL Id : hal-01698411 , version 1

Cite

Fabien Escudié, Fabrice Caignet, Nicolas Nolhier. Modélisation de système pour la prédiction de défaillances dues aux décharges électrostatiques. Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM 2016), May 2016, Toulouse, France. 5p. ⟨hal-01698411⟩
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