De par l'évolution des technologies des semi-conducteurs et la multiplication d'applications embarquées dans des environnements sévères, les défaillances induites par des décharges électrostatiques (ElectroStatic Discharges-ESD) deviennent une préoccupation majeure. Ces évènements transitoires de forte puissance peuvent provoquer la destruction du matériel ou induire des fautes logiques tout aussi critiques pour les applications où la sécurité des personnes est en jeu. Le principal objectif est de définir et de valider une méthodologie comportementale de construction de modèle de circuits intégrés (CI), pour simuler l'impact des ESD dans un système. Ce travail se fait dans le cadre du groupe de normalisation WG26 de l'ESDA (ESD Association-" Models for System Level Simulations ") qui travaille actuellement sur un standard afin de prédire l'impact des ESD dans un système. Sept laboratoires sont impliqués et travaillent en round robin pour valider une méthodologie.