GaN Technologies: From The Improvement Of Device Reliability To The Design Of Robust High Frequency Circuits
Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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https://laas.hal.science/hal-02088233
Soumis le : mardi 2 avril 2019-16:36:17
Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:21