METHODE DE PRE-SCAN POUR ACCELERER LES TEMPS DE MESURE DU SCAN CHAMP PROCHE EN IMMUNITE - LAAS - Laboratoire d'Analyse et d'Architecture des Systèmes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2023

METHODE DE PRE-SCAN POUR ACCELERER LES TEMPS DE MESURE DU SCAN CHAMP PROCHE EN IMMUNITE

Alexandre Boyer

Résumé

L'article présente une approche de "pré-scan", basée sur l'utilisation d'un générateur de peigne, pour accélérer les temps de mesure du scan champ proche en immunité appliquée sur carte et composant électronique.
Fichier principal
Vignette du fichier
Boyer_CEM2023_prescan_generateur_peigne_final.pdf (619.5 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-04203229 , version 1 (11-09-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04203229 , version 1

Citer

Alexandre Boyer, Fabrice Caignet. METHODE DE PRE-SCAN POUR ACCELERER LES TEMPS DE MESURE DU SCAN CHAMP PROCHE EN IMMUNITE. 21ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2023), Jun 2023, Toulouse, France. ⟨hal-04203229⟩
21 Consultations
8 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More