Modèle de corrélation entre une tension conduite et une injection champ proche - LAAS - Laboratoire d'Analyse et d'Architecture des Systèmes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2024

Modèle de corrélation entre une tension conduite et une injection champ proche

Fabien Escudié
  • Fonction : Auteur
Alexandre Boyer

Résumé

L’injection en champ proche (NFSI) est une méthode récente d’analyse de la susceptibilité électromagnétique (EM) d’un circuit intégré (CI) permettant d’étudier le comportement d’un système soumis à une agression électromagnétique intentionnelle (AGREMI). C’est un moyen non intrusif qui peut agresser des broches de composants par ailleurs non accessibles. Cet article compare le NFSI à une injection conduite qui s’inspire de la norme DPI et propose une corrélation entre les deux méthodes d’injection. Sa validation numérique et expérimentale avec différents types de sondes sur des impédances linéaires passives renforce son potentiel pour une évaluation plus précise de la susceptibilité des composants électroniques à une agression EM.
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04618410 , version 1 (20-06-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04618410 , version 1

Citer

Nicolas Castagnet, Fabien Escudié, Alexandre Boyer. Modèle de corrélation entre une tension conduite et une injection champ proche. XXIIIèmes Journées Nationales Microondes, Jun 2024, Antibes, France. ⟨hal-04618410⟩
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